Datos del producto:
Pago y Envío Términos:
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Gama de medición: | 100um (hasta 400um) | Vida de servicio media: | 1000hours (100W) 500hours (150W) |
---|---|---|---|
Resolución: | 0.1Nm | Potencia: | CA 100-240V 50/60Hz |
Velocidad de lectura: | El 12um/s más rápido | Nombre de la marca: | Rational |
Alta luz: | optical interferometry,optical surface profiler |
Interferómetro de la luz blanca de AE-100M y Profilers superficiales ópticos
Escrito de producto:
Combinado con el microscopio y el interferómetro, el interferómetro de la luz blanca, con la medida 3D de la altura de la exploración vertical de 400um, es conveniente para la medida del esquema y del perfil de diversos materiales y de componentes micro. Este instrumento no necesita el programa enmendado por la luz compleja. Es ampliamente utilizado en la lente de cristal, la superficie de la película de la capa, la oblea, el disco, MEMS (electro sistema mecánico micro), el LCD plano, el PWB de alta densidad, IC que empaqueta, análisis material, la investigación superficial micro, el etc.
Características:
1. medida 3D para el objeto del nanoscale.
2. de alta velocidad y sin contacto.
3. análisis de la superficie, del perfil y de la aspereza.
4. materiales transparentes o no transparantes disponibles.
5. haz del No-electrón y medida de la seguridad no-laser.
6. mantenimiento barato.
Gráfico profesional 3D que procesa y que analiza el software (poste Topo):
1. interfaz persona-ordenador fácil de usar.
2. Uno mismo-calibración para la película estándar avanzada.
3. el análisis linear o el análisis regional está disponible al analizar profundidad y altura.
4. el análisis linear está disponible en la aspereza o la ondulación definida por el ISO.
5. 17 especificaciones de medición y 4 datos de medición adicionales disponibles.
6. el análisis regional está disponible en análisis gráfico o análisis de la estadística.
7. 2.o Fourier rápido transforma (FFT) que procesa la característica como alisar, la afiladura, y la onda digital de la filtración.
8. el resultado del análisis hizo salir en ficheros gráficos múltiples como el BMP, o en el formato de Excel por el interferómetro que analizaba software, ImgScan.
Software de análisis de interferencia de la precisión de alta velocidad y alta (ImgScan):
1. El hardware de sistema se configura con software del proceso previo de ImgScan analizar automáticamente la franja de la blanco-luz.
2. la altura de la vertical está hasta 0.1nm.
3. software computacional y que analiza de alta velocidad.
4. La disposición de la gama de la exploración vertical es fácil y simple.
5. la lente está disponible en 10X, 20X o 50X.
6. exhibición numérica del eje de X, de Y y de Z, que hace el objeto medido más rápido y más conveniente detectar.
7. el brillo automático manual está disponible adquirir la mejor comparación de la franja de la blanco-luz.
8. disponible en modo de la medida de la exploración de la alta precisión PVSI o modo de alta velocidad de la medida de la exploración de VSI.
9. Patented que analiza software es conveniente para medir el perfil 3D del objeto semitransparente.
10. punto de la Auto-reparación.
11 la dirección de exploración se puede fijar por el usuario.
Especificaciones:
Modelo | AE-100M | ||
Tabla móvil (milímetro) | Tamaño: 100*100, viaje: 13*13 | ||
Ampliación de la lente | 10X | 20X | 50X |
Observando la gama de /Measuring (milímetro) | 0.43*0.32 | 0.21*0.16 | 0.088*0.066 |
Resolución (μm) | 0,92 | 0,69 | 0,5 |
Grados | 17 | 23 | 33 |
Distancia de funcionamiento | 7,4 | 4,7 | 3,4 |
La resolución del sensor | pixel: 640*480 | ||
Carga del peso (kilogramo) | 20kg/menos que 1kg | ||
viaje de Z-AXIS | 45m m (manualmente el ajustar) | ||
indicador digital de Z-AXIS | Resolución: el 1μm | ||
Plataforma de ajuste inclinada | Ajuste del manual de Biax/ | ||
Medida de la altura | |||
Gama de medición | 100 (μm) (los 400μm. Configuración opcional) | ||
Resolución | 0.1nm | ||
Exactitud repetida | ≤ 0,1% (height>10μm de medición) | ||
≤10nm (height1μm de medición el 10μm) | |||
≤ 5nm (altura de medición <1> | |||
Sistema de control de medición | Automático | ||
Velocidad de exploración (μm/s) | 12 (el más rápido) | ||
Iluminación | |||
Tipo | Lámpara del halógeno | ||
Vida útil media | 1000h 100W 500h (150W) | ||
Brillo | Automáticamente/ajusta manualmente | ||
La informática y ordenador | |||
Exhibición de proceso y computacional de la central | TAZA dual de core+ | ||
Vídeo y exhibición de proceso de datos | 17" pantalla LCD | ||
OS | Windows XP (2) | ||
Fuente de alimentación y requisitos ambientales | AC100 --240 V 50-60Hz | ||
Vibración ambiental | VVC-C más nivel | ||
Midiendo y analizando softwares | |||
Software de medición ImgScan | Software de medición ImgScan: disponible en modo de medición de VSI/PVSI/PSI (el modo de medición de la PSI se debe configurar con el módulo de la PSI) | ||
Analizar el software PosTopo | La aspereza del ISO/el análisis de la altura, el múltiplo 2.o y 3D Fourier rápido transforma. Observe el gráfico de la visión como esquema; esquema, área, y análisis del volumen; enfoque del gráfico; conversión del formato de archivo de vídeo. Divulgue la salida; programe la medida del seminario. |
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